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NIDays2010 专题演讲 专题二 自动化测试

资料介绍
运筹帷幄——测试测量平台选型的考虑因素
演讲者：黄睿——NI中国资深应用工程师
改变数据采集命运的未来技术
演讲者：李甫成——NI中国技术市场工程师
构建自动化测试系统实践中的锦囊妙计
演讲者：刘旭阳——北京中科泛华测控技术有限公司 技术市场工程师
硬件在环(HIL)与实时测试技术研析
演讲者：徐征——NI中国技术市场工程师
标签：NI，自动化测试
NIDays2010 专题演讲 专题二 自动化测试
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