4200-SCS半导体特征化系统

4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境（KITE）软件
技术笔记


A G R E A T E R M E A S U R E O F C O N F I D E N C E




用4200-SCS系统的User Test Module
进行实时数据绘图
4200-SCS半导体特征化系统的Keithley 互动测试环境（KITE）软件，
包含了两种测试模块：互动测试模块（ITM，Interactive Test
Module）和用户测试模块（UTM，User Test Modul）。用户可以根据
他们的偏爱和所要测试的类型来选择相应类型的模块。ITM提供了一种
建立I-V测试的非常方便的方法，而所有要做的只是简单的鼠标移动和
点击。ITM还允许进行实时数据绘图（即边测试边绘图）。另一方面，
使用了UTM，用户可以用C语言和所提供的仪表库来编写测试程序。UTM
被设计成在对4200-SCS和其他外部仪器进行控制时可以提供最大的灵
活性，因而用户几乎可以创建任何所需的测试。

直到不久前，KTE中的UTM软件的功能仍很有限，因为