首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > 【技术概述】Agilent Medalist测试和检测系列——提高测试效率的最快捷径

【技术概述】Agilent Medalist测试和检测系列——提高测试效率的最快捷径

资料介绍
Agilent Medalist系列是目前最全面的在线测试、自动光学检测和自动X 射线检测解决方案。
Agilent Medalist 测试和检测系列


提高测试效率的最快捷径


Agilent Medalist 系列
是目前最全面的

在线测试、

自动光学检测和
自动 X 射线检测

解决方案。
Medalist i1000

基本的 ICT,适中的价格

Agilent Medalist 系列包括用于在 Agilent Medalist i1000 在线测试 (ICT) 系统将 MDA 的
简单性和所有 Agilent ICT 系统所独有的可扩展性、 特性和灵
活性结合在一起。i1000 可在最短的时间内,以尽可能最低的
线测试、自动光学检测和自动 X 射线 成本完成质量测试。

直观的图形用户界面 (GUI) 和单触式自动调试功能可在几
小时内排除程序和夹具遇到的问题,从而节省时间。
检测的解决方案。所有这些解决方案
自动防护技术可基于电路板拓扑选择防护点,
从而加快调
标签:AgilentMedalist
【技术概述】Agilent Medalist测试和检测系列——提高测试效率的最快捷径
本地下载

评论