Agilent Medalist i3070测试程序最优化

作者：肖巍 中国区ICT 应用工程师 安捷伦科技有限公司
本应用指南考察了导致Medalist i3070 在线测试系统上测试时间提高的某些应素，以及用户可以采用在Medalist i3070ICT 上缩短系统测试时间，提高吞吐量的方法。

Agilent Medalist i3070
测试程序最优化
肖巍 中国区 ICT 应用工程师
安捷伦科技有限公司




本应用指南考察了导 为什么测试时间会增加呢?
测试时间的增加主要来自以下几个原因:
致 Medalist i3070 在线测
1. 测试程序是通过 IPG 产生出来的，但是没有针对特别的产线上的板子
试系统上测试时间提高的 做程序优化。

2. 当在第一次测试程序调试的时候增加了测试选项。
某些应素，以及用户可以
3. 在产线测试的时候增加了测试选项。

采用在 Medalist i3070 4. 错误的打乱模拟测试的顺序。

5. 错误的上电顺序。
I C T 上缩短系统测试时
6. 使用默认的矢量循环时间来进行数字零件测试。

间，提高吞吐量的方法。 7. 在上电测试过程中过度的等待。

8. 随意的使用“safeguard cool”命令。

9. 太复杂的测试。

10. 随意的在 testplan 中使用等