首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 模拟IC/电源 > IGBT的质量和可靠性测试

IGBT的质量和可靠性测试

资料介绍
产品品质和可靠性是当今半导体最重要的两个因素。安森美的IGBT经过一系列的可靠性测试，包括高温反向偏压、高温栅极偏置、高温存放寿命、高湿高温反向偏置、无偏压高加速应力、间歇运行寿命、温度循环、低温存放寿命、稳态运行寿命等等，这可靠性和质量保证工程旨在评估新产品，以确保产品在实际应用中的性能令人满意。
标签：onsemi，安森美，IGBT，可靠性测试
IGBT的质量和可靠性测试
本地下载

相关资源 onsemi ，安森美 ，IGBT

ARM Powered产品首次在ARM开发者大会上展示
一种嵌入式PPC下音频播放的方法
AdvicePocket袖珍型仿真器
串口精灵 — Pocket PC上的串口调试工具
Microsoft Money 2004 for Pocket PC
DATA Flash操作库
BCM56720B0KFSBG.pdf
lm317
gerber 文件产生步骤（非常实用）
gerber 文件产生步骤（非常实用）
该用户资料分享
燧石技术红外视觉安防产品解决方案
红外热像仪在新能源汽车充电领域桩的监测应用
红外热像仪新能源锂电池行业解决方案
红外热像仪数据机房解决方案
村田Type 2GQ GNSS模组 应用指南
满足欧盟《无线电设备指令》（RED） 信息安全标准
STM32WB0 系列介绍及无线生态系统 的技术解析
如何驱动电阻性、电感性、电容性和照明负载
设计指南：48 V 起动发电机系统方案
电源设计小贴士精选集锦

相关新闻 onsemi ，安森美 ，IGBT

WLR测试中所面临的新挑战
用实例分析硬件可靠性测试设计
利用LabVIEW和IMAQ 进行光电设备的可靠性测试
硅片级可靠性测试详解
晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤（二）
晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤（一）

相关电路 onsemi ，安森美 ，IGBT

CS5171 反激式应用设计方案
CS5172/74 反压式应用设计方案
CS5171/73 升降压(SEPIC)应用设计方案
汽车级高频启停升压控制器参考方案
PS10W5S 宽输入电压165~265VAC，输出10W，5V，AC-DC开关电源设计方案
PS12W5S 宽输入电压165~265VAC，输出12W，5V，AC-DC开关电源设计方案

相关视频

【双车跟随】惠州学院-东江-青鸾
【双车跟随】山东大学（威海）-山魂四队
【双车跟随】乐山师范学院-乐师-双车跟随
浙江工业大学-浙工大鸿泉跳跳羊队
集美大学-川崎JMU 2
杭州电子科技大学-杭电平衡轮腿三队

评论

下载排行
  • 本周
  • 本月
  • 总榜
快捷入口