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考虑单粒子效应对 FPGA、ASIC 和处理器的影响

资料介绍
单粒子效应 (SEE) 是高可靠性系统开发过程中人们日益关注的一个问题，然而 ASIC 和 FPGA 用户在理解其设计如何受单粒子效应影响方面存在巨大的差异。本白皮书将重点介绍有关 SEE 对 ASIC 和 FPGA 的影响，并提供有关处理 SEE 的分析方法和规避方法。
标签：FPGA，单粒子效应，ASIC
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