【作 者】（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译
【出版商】 电子工业出版社 , 2005.07
【ISBN号】7-121-01490-4
【页 数】 511 ; 26cm
【原书定价】58.00
【主题词】超大规模集成电路(学科: 测试技术) 超大规模集成电路 测试技术
【中图法分类号】TN470.7 (工业技术>无线电电子学、电信技术>微电子学、集成电路（IC）>大规模集成电路、超大规模集成电路)
【参考文献格式】（美）Michael L.Bushnell，（美）Vishwani D.Agrawal著；蒋安平，冯建华，王新安译. 超大规模集成电路测试 数字、存储器和混合信号系统. 电子工业出版社, 2005.07. 【内容提要】 国外电子与通信教材系列:本书系统介绍了VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试和可测试性设计。内容包括测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型、测试方法等。
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