摘 要:简要叙述了反熔丝FPGA的基本结构，介绍了一种FPGA延时电路的工作原理以及利用该电路在“强光一号”脉冲加速器上进行γ瞬时辐照试验的方法，给出了试验测量结果。分析表明；高剂量率γ瞬时电离辐射会破坏FPGA延时电路一个信号周期的工作状态，因此存在功能失效的可能性。但就整体而论，反熔丝FPGA抗瞬时辐射的性能要优于其它许多大规模CMOS集成电路。[著者文摘]
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