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FPGA集成FIFO在高过载存储测试系统中的应用

资料介绍
摘　要:本文主要利用XILINX公司的FPGA芯片XC2S30内部的双口RAM来集成FIFO,并根据两种不同的三星公司FLASH存储器页编程缓冲寄存器容量,设计了两种不同的FIFO缓冲高过载存储测试解决方案,从而最大限度地利用了FPGA的内部资源,文中还给出了测试系统总体框图及应用情况.
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