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基于嵌入式逻辑分析仪的FPGA测试

资料介绍
摘　要:在高度集成FPGA芯片测试中,其内部信号的实时获取与分析比较困难.对嵌入式逻辑分析仪SignalTapⅡ在FPGA测试中的应用进行了试验研究.将逻辑分析模块嵌入到FPGA信号发生器,构成一个逻辑分析仪.在FPGA芯片工作状态下,实现了内部信号的获取与分析.实验结果表明,应用SignalTap Ⅱ对FPGA进行测试,操作方便,实时性较高.
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