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基于ARM的简易低频幅频特性测试仪的设计

资料介绍
摘要: 本文设计实现了基于ARM微处理器和实时操作系统μC/OS-Ⅱ的简易幅频特性测试仪,给出了硬件结构图和用户任务函数.充分利用了ARM7系列微处理器的强大功能,最大程度的减少了外围电路,降低了系统的功耗.并成功地在微处理器上移植了实时操作系统μC/OS-Ⅱ,提高了系统的稳定性.
标签:嵌入式ARM
基于ARM的简易低频幅频特性测试仪的设计
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