积分：0分 关键词：Maxim，statistical process control， yield defects， Gaussian distribution， Six Sigma， prediction yield analysis， defect opportunity per million， DOPM， normal distribution curve， SPCC， SPC
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积分：0分 关键词：Infrared Data Association，Serial Infrared Physical Layer
积分：0分 关键词：Infrared Data Association Serial Infrared Physical Layer Specification
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