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负偏置温度不稳定性(NBTI) 对 90 nm PMOS 的影响

资料介绍
负偏置温度不稳定性(NBTI) 对 90 nm PMOS 的影响
White Paper: Virtex-4 Family

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WP224 (v1.1) November 21, 2005



Negative-Bias Temperature
Instability (NBTI) Effects in
90 nm PMOS
By: Austin Lesea and Andrew Percey




This paper describes Negative-Bias Temperature
Instability (NBTI), an unwanted transistor behavior
that is pervasive in all deep sub-micron designs. It
also describes how Xilinx has proactiv
标签:xilinxcpld
负偏置温度不稳定性(NBTI) 对 90 nm PMOS 的影响
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