首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 嵌入式系统 > 基于红外线阵CCD技术的回转窑托辊检测

基于红外线阵CCD技术的回转窑托辊检测

资料介绍
基于红外线阵CCD技术的回转窑托辊检测
标签:嵌入式单片机MCU
基于红外线阵CCD技术的回转窑托辊检测
本地下载

评论