资料介绍
测试技术标准Q/SIT-WS-01
测试技术标准
Test standards
测试技术标准
1 范围 本标准规定了数码摄像模组产品测试的技术标准。 本标准适用于数码摄像模组产品的测试。 2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。 凡是注日期的引用文件， 其随后min所有的 修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用 于本标准。 Q/SMX01-2006 数码摄像模组 Q/SIT T05～07 检验标准 3 术语和定义
数码摄像模组分辨率 表征数码摄像模组对被摄景物细节的分辨能力。可分别用视觉分辨率和空间频率感应灵敏度表达。 3.2 分辩率极限 当空间输入频率等于数码摄像模组采样频率的 1/2 倍时，输入信号将开始出现混叠，此时的空间频 率达到数码摄像模组的分辩率极限，单位： （Lw/PH） 。 3.3 帧频 帧频是数码摄像模组每秒钟产生完整图像的画面数，单位为“帧/秒”。 3.4 几何失真 数码摄像模组拍摄的画面相对于被拍摄图案（见附录C 几何失真测试图卡）的几何变形，亦称为畸 变。 如果实际像高大于被拍摄图像时为正畸变，亦称枕形畸变，如图1所示。反之，为负畸变，亦称桶 形畸变，如图2所示。其几何失真q按下式计算： q=(y’-y)/y*100% 其中：y’―正畸变像面最小畸变尺寸，负畸变像面的最大畸变尺寸 y―与 y’对应的被摄图案的尺寸
3.1
图 1 枕形畸变
图 2 桶形畸变
1
3.5
坏点 在特定的照明条件下（亮度差＜10%） ，对数码摄像模组中像素的光电转换能力进行分析： 1）30 万 Pixel 芯片：在暗场条件下定义，坏点为比周围 40*40 个像素区域亮度平均值亮 29DN；在 白场条件下，定义坏点为比周围 40*40 个像素区域平均值暗 15%； 2）130 万
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