测试系统中干扰及其形成机理

测试系统中干扰及其形成机理
测试系统中干扰及其形成机理
测试系统中干扰及其形成机理

随着国民经济和社会生产的迅速发展，测试系统已经广泛应用到科学研究和生产实践的
各个领域。由于存在干扰，它对测试系统的稳定度和精确度受到了直接的影响，严重时
可使测试系统不能正常工作。因此，从系统的设计、制造、使用方式以及工作环境等各
个方面都不得不优先考虑抗干扰问题。所以对干扰的研究是测试技术的重要课题。

干扰形成的全过程是由干扰源发出的干扰信号，经过耦合通道达到受感器上，构成整个
系统的干扰。干扰的三个环节，称之为干扰系统的三要素，如图1所示。要有效地抑制干
扰，首先要找到干扰的发源地，防患于发源处是抑制干扰的积极措施。当产生了难以避
免的干扰，削弱通道对干扰的耦合以及提高受感器的抗干扰能力就成为非常重要的方法
。
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为了讨论方便，将干扰源分为来自测试系统外部和同部的两个方面，现分别给予讨论。


1 来自测试系统外部的干扰

1.1 自然干扰

自然干扰包括雷达、大气层的电场变化、电离层变化以及太阳黑子的电磁辐射等。雷电
能在传输线上产生辐值很高的高频涌浪电压，对系统形成的干扰。太阳黑子的电磁辐射
能量很强，可造成无线通信中断。来自宇宙的自然干扰，只有高频才能穿过地球外层的
电离层，频率在几十MHz到200MHz之间，电压一般在μV量级，对低频系统影响甚微。

1.2 放电干扰

1.2.1 电晕放电

最常见的电晕放电来自高压输出线。高压输电线因绝缘失效会产生间隙脉冲电流，形成
电晕放电。在输电线垂直方向上的电晕干扰，其电平随频率升高而衰减。当频率低于1M
Hz时，衰减微弱；当频率高于1MHz时，急剧衰减。因此电晕放电干扰对高频系统影响不
大，而对低频系统影响较为严重，应引起注意。

1.2.2 辉光放电

辉光放电即气体放电。当两个接点之间的气体被电离时，由于离子磁撞而产生辉光放电
，肉眼可见