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超外差与零中频的比较

资料介绍
超外差与零中频的比较
各有优缺点,从成本上考虑ZIF零中频较低,BOM大大地减少,而且容易集成,所以现在
手持设备的芯片基本上是采用零中频的架构。超外差架构需要SAW滤波器,成本高,而且
占面积,优点是可以优化得很好。零中频的问题是LO泄露,DC Offset,flicker
noise噪声和IP2(AM Suppression)问题,设计难度大。
1, LO和RF频率相同,LO的频率可以直接泄漏到入射信号端,形成很强的LO泄漏干扰
2,由于基带信号在零频附近,由于偶次失真项引起的干扰开始影响接收机的性能,如偶
次项失真产生的DC部分会影响电路的直流工作点,形成DC
offset,另外一个偶次项失真就是IP2
3,基带附近的Flicker
Noise替代了原来的高斯白噪声,形成基底噪声,影响接收机的信躁比
4,直接在RF进行IQ分离,会出现IQ通路很难匹配;
5,基带滤波器通常采用有源滤波器实现,在IC Layout中占很大面积,而且Noise
Figure很大

只要克服上述主要缺点,零中频和低中频还是一种趋势
2, 1)本振泄漏(LO Leakage)
零中频结构的本振频率与信号频率相同,如果混频器的本振口与射频口之间的隔离性能不
好,本振信号就很容易从混频器的射频口输出,再通过低噪声放大器泄漏到天线,辐射到空
间,形成对邻道的干扰;
2)偶次失真(Even-Order Distortion
两个高频干扰经过含有偶次失真的LNA将产生一个低频干扰信号。若混频器是理想的,此
信号与本振信号coswLOt混频后,将被搬移到高频,对接收机没有影响。然而实际的混频器
并非理想,
RF口与IF口的隔离有限,干扰信号将由混频器的RF口直通进入IF口,对基带信号造成干扰

3)直流偏差(DC Offset)
直流偏差是零中频方案特有的一种干扰,它是由自混频(Self-
Mixing)引起的。泄漏的本振
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超外差与零中频的比较
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