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共享ARM-jtag调试原理一篇

资料介绍
ARM-jtag调试原理OPEN-JTAG

ARM JTAG 调试原理
OPEN-JTAG 开发小组

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前言

这篇文章主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍,在此基础上,结合 ARM7TDMI 详细 介绍了的 JTAG 调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会,希望对想了解 ARM JTAG 调试的网友们 有所帮助。我个人对 ARM JTAG 的理解还不是很透彻,在文章中,难免会有偏失和不准确的地 方,希望精通 JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖,有什么问题提出来,我一定尽力纠正。同时 也欢迎对 ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。

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IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

既然是介绍 JTAG 调试,还是让我们从 IEEE 的 JTAG 调试标准开始吧。JTAG 是 JOINT TEST ACTION GROUP 的简称。IEEE 1149.1 标准就是由 JTAG 这个组织最初提出的,最终由 IEEE 批准并且标准化的。所以,这个 IEEE 1149.1 这个标准一般也俗称 JTAG 调试标准。 接 下 来 的 这 一 部 分 , 主 要 简 单 的 介 绍 了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的基本构架。虽然不是很全面,但对了解 JTAG 的基本 原理来说,应该是差不离了。如果希望更全面深入的了解 JTAG 的工作原理,可以参考 IEEE 1149.1 标准。

2-1 边界扫描
在 JTAG 调试当中,边界扫描(Boundary-Scan)是……
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