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Agilent培训资料6

资料介绍
计量学基础RF & Microwave e-Academy Program
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MEAS 101: 计学基础

Technical data is subject to change. Copyright@2004 Agilent Technologies Printed on Jan, 2004 5988-8491CHA

欢迎来到 MEAS 101 计量学基础模块。如果您才接触测量技术、射频和微波,或仅仅是为了复习, 我们强烈推荐您从这一模块开始。 后面的模块将讨论许多与测量有关的术语 ── 如分辨率、可重复性、准确度等。懂得这些术语的意 义非常重要,这样才能理解其它模块中的上下文关系。本模块的学习时间为20 至 30 分钟。 .

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我们今天要讲哪些内容?

1. 引言 2. 术语的定义
测,真值,偏移,测误差,测系统变化,测试系统变化, 可再现性,可重复性和DUT(被测设备)变化

3. 仪器性能
准确,精密对准确,确定,分辨,灵敏,线性,稳 定和标准

4. 测变化的分解 5. 测结果 (类型) 6. 测单位

欢迎来到Agilent计量学基础模块! 在这一自行掌握进度的模块中,您将全面了解测量过程,测量术语,如何显示和解释结果,了解不 确定度的产生原因。我们最后还将快速浏览不同类型的单位。 本模块用于奠定测量技术的基础。在这里解释许多您工作中经常遇到,或研究本网址其它材料时碰 到的术语。 进行精确测量需要了解测量技术和测量过程。有许多参数会影响测量准确度,并且往往会使准确度 下降。重要的是理解这些影响量的特性,在需要时予以定量,消除它们对最终测量结果的影响,从 而更接近于真实情况。

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计的重要性
测的效果无处在,使人们能规划他们的生活和有信用地进 商业交。 对……
标签:计量学基
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