首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > NIDays 2012讲座资料包之嵌入式控制与监测专题

NIDays 2012讲座资料包之嵌入式控制与监测专题

资料介绍
嵌入式测控应用的多样化和长尾化以及传统嵌入式测控系统开发的分散化、复杂化,这使得搭建一个集高级测量和高级控制于一体的嵌入式系统面临很大的困难。在本专题中,NI资深RIO开发工程师将为您带来基于RIO平台的各种应用实例以及开发技巧。
标签:NIRIO嵌入式
NIDays 2012讲座资料包之嵌入式控制与监测专题
本地下载

评论