首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > MDO4000针对嵌入式射频系统的跨域分析应用案例(2012-100例)

MDO4000针对嵌入式射频系统的跨域分析应用案例(2012-100例)

资料介绍
案例一为数字锁相环的起振过程测试。数字锁相环是嵌入式射频系统与数字射频系统普遍采用的频率控制器件,图1为数字锁相环框图。在数字锁相环中,鉴相的输出通过SPI总线传送给数字/模拟转换器(DAC),DAC的输出控制VCO,而VCO的输出电压与参考频率进行比较,从而形成闭环锁相控制。
MDO4000针对嵌入式射频系统的跨域分析应用案例(2012-100例)
本地下载

评论