首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > 用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试

用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试

资料介绍
开发IC让它能工作是一回事;
而让它耐用就是另一回事了
A G R E A T E R M E A S U R E O F C O N F I D E N C E




用。例如,当栅极电压应力卸载后
NBTI退化会恢复。然后,漏极电流
和阈值电压会恢复回到它们的原始
值――这种情况可能与现实使用不
符。如果恢复之后应力继续,那么器

用于半导体可靠性的 件的退化将遵照先前的退化曲线。随
着应力测量周期的恢复,测试结果会

短脉冲强制性测试
用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试
本地下载

评论