改善查看周期：调试DDR和DD2系统中的间歇性存储器问题

本应用指南概括介绍了调试方法，介绍了多种工具和技术。在DDR和DDR2系统( 包括全面缓冲的DIMM 的SDRAM 一侧) 中调试存储器问题时，您可以利用这些工具和技术，不但节约时间，而且能帮助您更好地了解系统性能。
改善查看周期:
调试 DDR 和 DDR2 系统中的
间歇性存储器问题
应用指南 1575




引言 本应用指南概括介绍了调试方 1. 确定问题能不能重复。试着复
法，介绍了多种工具和技术。在DDR 现故障条件。复现故障通常会
为什么有些工程团队可以相对
和 D D R 2 系统 ( 包括全面缓冲的 为了解问题特点提供宝贵信息。
容易地检验和调试间歇性存储器问
DIMM 的 SDRAM 一侧)中调试存储
题，而有些团队则会非常费力呢？ 2. 使用探头或转接器，把逻辑分
器问题时，您可以利用这些工具和
在试图确定间歇性存储器问题的根 析仪连接到存储器总线上，迅
技术，不但节约时间，而且能帮助您
本原因时，怎样才能保证不会浪费