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半导体器件检定需要灵活的激励信号

资料介绍
半导体器件检定需要灵活的激励信号
应用文章


半导体器件检定测试需要灵活的激励信号




半导体遍布于各个领域。它们是当前通信系统和计算系 什么是半导体器件检定测试?
统的基本构件,它们是消费电子产品和航空技术的基 在一系列详尽的布局和建模流程后, 新型半导体器件的
础,它们支持工业系统、环境控制等等。在本应用指南 “第一个硅”原型铸造完毕,但其是否能够实现预期的性
中,我们将考察称为信号源的测量仪器怎样帮助您精确 能呢?累积内部容限和不能预见的电路单元之间的交互
地测试某些基本半导体设备的性能特点。本文适用于开 仍会影响设备的预计性能。因此,必须对设备进行测试,
发新型半导体设备的设计人员及在最终产品中应用这些 确定其是否满足基本设计规范。这一步称为设计检验或
半导体设备的工程师。 检定,它验证设计在功能上能够正常运行。
半导体器件检定测试需要灵活的激励信号
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第二个、也是更加完善的一套检定测试是确定设备的 来了挑战。最重要的是,由于复杂性和速度不断增长,
“发展空间”和工作余量。本应用指南将主要介绍检定, 工程师必须找到能够全面满足被测设备需求、而又经济
即测量设备的实际性能极限。 一旦知道这些极限达到令 高效的测量解决方案。
人满意的水平, 那么可以指定制造容限,确定成品率目
本文其余部分将专门介绍信号源在半导体测量应用中的
标,印刷产品资料。
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