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测试案例分析--提升测试精度、缩短测试时间

资料介绍
测试案例分析--提升测试精度、缩短测试时间
使用泰克方案解析常见测试案例
--提升测试精度、缩短测试时间




王庆宇
qingyu.wang@tek.com
Agenda
模拟数据域联合调试
简化Xilinx和Altera FPGA系统调试
数字系统电源带载/噪声/纹波测试
雷达脉冲信号(低占空比)测量
自动保存/记录波形数据
自定义眼图测试
模拟数据域联合调试
iCaptureTM+iViewTM+iVerifyTM信号完整性调试、分析工具
Digital Age Drivers
标签：TekTronix，测试精度
测试案例分析--提升测试精度、缩短测试时间
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