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PCIe逻辑层和电气层问题调试考虑因素及一致性测试最新动态

资料介绍
PCIe逻辑层和电气层问题调试考虑因素及一致性测试最新动态
PCI Express 3.0 Testing Approaches for
PHY Layer




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PCI Express 3.0 Technology Timeline Released Date

2009 2010 2011 2012

Q1 Q2 Q3 Q4 Q1 Q2 Q3 Q4 Q1 Q2 Q3 Q4 Q1 Q2 Q3 Q4

0.5 0.7
标签：TekTronix，PCIe
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