资料介绍
SDRAM 内存系统: 嵌入式测试和测量挑战
DRAM (动态随机访问存储器)对设计人员特别具有吸引力,因为它提供了广泛的性能,用于各种计算机和嵌入式系统的存储系统设计中。本DRAM 内存入门手册概括介绍了DRAM 的概念,展示了DRAM 可能的未来发展方向,并概括了怎样通过验证来改善内存设计。
入门手册
SDRAM 内存系统:
嵌入式测试和测量挑战
SDRAM 内存系统:嵌入式测试和测量挑战
入门手册
目录
引言3-4
DRAM发展趋势3
DRAM4-6
SDRAM6-9
DDR SDRAM6
DDR2 SDRAM7
DDR3 SDRAM8
DDR4 SDRAM9
GDDR 和 LPDDR9
DIMMs9-13
DIMM 物理尺寸9
DIMM 数据宽度9
DIMM 排列10
DIMM 内存尺寸和速度10
DIMM 结构10
串行位置检测12
内存系统设计13-15
设计仿真13
设计检验13
检验策略13
SDRAM检验14
词汇表16-19
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SDRAM 内存系统:嵌入式测试和测量挑战
入门手册
引言 第一,内存必需兼容计算机制造商使用的各种内存控
DRAM (动态随机访问存储器)对设计人员特别具有吸引 制器中心;
力,因为它提供了广泛的性能,用于各种计算机和嵌入 第二,在计算机的同一内存系统中混合使用不同制造
式系统的存储系统设计中。本 DRAM 内存入门手册概 商