Xilinx SRAM 型FPGA抗辐射设计技术研究

Xilinx SRAM 型FPGA抗辐射设计技术研究
第 !" 卷第 # 期 宇 航 学 报 3’, 4 !" 5’ 4 #
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71,1*8 9:.; 型 <=>. 抗辐射设计技术研究
邢克飞 # ，杨 俊 # ，王跃科 # ，肖争鸣 ! ，周永彬 #
（ # 4 国防科技大学 机电工程与自动化学院 ?!? 室，长沙 @#$$%? ； ! 4 上海航天电子有限公司，上海 !$#"$$）



摘 要：针对 71,1*8 9:.; 型 <=>. 在空间应用中的 可 行 性，分 析 了 71,1*8 9:.; 型 <=>. 的 结 构，以及空间辐
射效应对这种结构 <=>. 的影响，指出 9:.; 型的 <=>. 随着工艺水平的提高、器件规模的增大和核电压的降低，抗
总剂量效应不断提高，抵抗单粒子效应，尤其是单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲的能力降低。分析了 <=>. 综 合 后 常