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针对SMD晶体器件检测的机器视觉系统的设计

资料介绍
摘要:SMD晶体器件的检测工序是其出厂前的最后一道工序,由于在测试时其电极具有方向性,因此需要对其进行方向识别。而传统光纤传感器无法实现稳定可靠的判别。本文提出了一种采用机器视觉系统进行判别的方法,降低了检测成本,提高了检测质量和效率。并对机器视觉系统硬件的搭建和软件测试算法进行了介绍。

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标签:SMD晶体
针对SMD晶体器件检测的机器视觉系统的设计
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评论

iusee2011· 2012-12-14 20:31:30
谢谢分享!