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开环增益测试方法

资料介绍
ADI技术专讲针对常见技术问题,图文并茂地介绍更好、更快的开环增益测试方法
应用工程师问答―38 仅仅为了在软件和测试设备之间交换数据,就需要花费大量的
时间。示波器的分辨率也成为其中的一个原因:在输入幅度很
更好、更快的开环增益测试方法 小的时候,由于噪声占据了系统的主要成分而使触发变得非常
困难。我也观察到了间歇性的错误样点(见图 3)。对错误样点进
作者:David Hunter [david.hunter@analog.com] 行分析,我发现这些错误的样点是在测试设备完成更新之前出
在使用反馈的系统中,反馈网络是一种经过配置而获得特定增 现的,这实际上是一个系统稳定时间的问题。到最后,每个测
益和相位关系的电路,比如,一个可调节的比例积分差分(PID) 试不可思议地花费了大约 35 分钟的时间。在分析测试中如何使
控制器,用于调整环路的增益或相位以保证稳定性(见图 1)。 用这些时间的时候,我发现,对于每个数据点,大部分时间是
我们往往需要对这个反馈网络在特定配置下的性能进行测量, 用于主机与测试设备之间的通讯,而不是用于实际的测试。
以便对它的开环特性建立模型。但这样的测试通常总是很困难
的。例如,积分器的低频增益可以非常高,一般会超出常用测
试仪的测量范围。所以,这些测试的目的是,使用现有的工具
和少量的专用电路,以最小的工作量,快速地得
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开环增益测试方法
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