一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法

一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法
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一种 !"#$ 的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法

廖永波，李# 平，阮爱武
（ 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室# 成都# F"&&G$ ）


摘# 要：提出并验证了一种新颖的 HIJ< 中 ’KL 的全覆盖定位测试方法，该方法通过建立基于 4M’ 软硬件协同技术的 HIJ<
自动测试系统，实现了 ’KL 测试所需要的多次下载不同的配置图形，针对每个配置图形进行测试的需求；该方法通过建立规则
布局 ’KL 串行移位阵列为基础形成的 HIJ< 定位配置图形、以及 HIJ< 自动定位算法，实现了对 HIJ< 中所有 ’KL 的全覆盖测
试以及错误定位。利用本文提出的方法对 N)2)*O 公司 N’$&"& 型号 HIJ< 中所有 ’KL 进行了测试，实验结果表明该方法可以实
现 HIJ< 中 ’KL 的全覆盖测试以及错误定位。
关键词：软硬件协同验证；HIJ<；’KL；定位；测试
中图分类号：PI%&F Q > "# # 文献标识码：<# # 国家标准学科分类代码：G"&> !