首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 常用文档 > C特性

C特性

资料介绍
电容的温度和频率特性

ESR和ESL对电容的高频特性影响最大,所以常用如图1(b)所示的串联RLC简化模型,可
以计算出谐振频率和等效阻抗:
[pic]
  图1 去耦电容模型图
[pic]
  电容器串联RLC模型的频域阻抗图如图2所示,电容器在谐振频率以下表现为容性;
在谐振频率以上时表现为感性,此时的电容器的去耦作用逐渐减弱。同时还发现,电容
器的等效阻抗随着频率的增大先减小后增大,等效阻抗最小值为发生在串联谐振频率处
的ESR。
[pic]
  图2 电容器串联RLC模型的频域阻抗图
  由谐振频率式(4-8)可得出,容值大小和ESL值的变化都会影响电容器的谐振频率
,如图3所示。由于电容在谐振点的阻抗最低,所以设计时尽量选用fR和实际工作频率相
近的电容。在工作频率变化范围很大的环境中,可以同时考虑一些fR较小的大电容与fR
较大的小电容混合使用。
[pic]
  图3 容值和ESL的变化对电容器频率特性的影响
电容器在温度变高时电容量可以变低也可以变高,

一、温度与电容的寿命。

一般情况下,电容的寿命随温度的升高而缩短,最明显的是电解电容器。一个极限工作
温度为85℃的电解电容器,在温度为20℃的条件下工作时,一般情况可以保证181
019小时的正常工作时间;而在极限温度85℃的条件下工作时,一般情况仅仅可以保
证2000小时的正常工作时间。所以,在设计电路时,应注意此情况。

二、温度与电容的损耗角正切值。

任何电容器都有一个损耗角正切值,即电容器的损耗。一般情况下正切值是随温度的升
高而增……
标签:频率温度
C特性
本地下载

评论