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LVDS传输系统测试方案

资料介绍
主要介绍LVDS的测试方法
LVDS 传输系统测试方案
-BJLK

LVDS 是低压差分信号的简称,由于其优异的高速信号传输性能, 目前在高速
数据传输领域得到了越来越多的应用。LVDS 的传输系统可以采用专用带 LVDS 接
口的芯片,也可以由 FPGA 加上 LVDS 的 Serdes 芯片组成。其典型架构如下:




LVDS 的 Serializer 芯片把 FPGA 的多路并行数据通过时分复用的方法变成较
少路数、较高速率的串行 LVDS 信号进行传输,接收端的 de-Serializer 芯片再
把接收到的串行 LVDS 信号解成多路并行数据。 其好处在于 FPGA 通过外挂的 LVDS
芯片可以方便可靠地以高速率把内部数据传输出去,如 NS、TI 等公司大量提供
这种 LVDS 的 Serdes 芯片。

对于 LVDS 系统的测试,主要涉及以下几个方面:

1/ FPGA 内部逻辑和并行接口测试,用于保证数据处理和控制的正确性;
2/ 高速串行 LVDS 信号质量测试,用于保证 LVDS 信号的正确传输;
3/ 高速互连电缆和 PCB 的阻抗测试,用于保证传输链路的信号完整性;
4/ 系统误码率测试,用于验证系统实际传输的误码率;

下面就几个方面分别介绍:

1/ FPGA 内部逻辑和并行接口测试,用于保证数据处理和控制的正确性;

传统上的 FPGA 内部信号调试有 2 种方法:直接探测和软逻辑分析仪的方案。

直接探测的测试方法:

是通过在逻辑代码里定义映射关系,把内部需要调试的信号映射到外部未使
用的 I/O 管脚上,通过相应 PCB 走线和连接器……
LVDS传输系统测试方案
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