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一种数字集成电路测试系统的设计

资料介绍
测试测量技术

一种数字集成电路测试系统的设计
随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性
试验及测试系统项目中,需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片,而市
场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求,而大型测试系统价格昂贵。本文
介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统,可测电平范围达±32V,使用方便,
且成本较低。
测试系统结构及工作原理
系统需要对集成电路进行功能测试和直流参数测试。功能测试通过向集成电路输入端施
加设定的测试向量,检测并比较其输出的测试向量,从而验证器件的逻辑功能是否正常
。直流参数测试是以电压或电流的形式验证集成电路的电气参数,要保证较高的测试精
度。
为了使系统结构灵活,便于升级,采用了基于总线的模块化结构,其结构如图1所示。系
统由通道板、数控电源板(DPS板)、精密测量单元板(PMU板)、测试接口板、单片机
系统板(CPU板)和总线板组成。各个板卡通过总线板进行数据连接和交换。DPS板给测
试系统提供电源、电压参考,给被测器件(DUT)提供工作电压。测试接口板功能是给DUT
提供测试接口,给器件上电。
[pic]
在功能测试过程中,计算机把预先生成的测试向量送到单片机系统,单片机控制通道板
把信号电平转换为测试所需的电平,并把转换后的时序波形施加到待测器件(DUT)的输
入管脚上,然后检测DUT的输出,把检测结果通过总线传到单片机进行判断处理。直流参
数测试过程是向DUT施加直流参数测试条件
一种数字集成电路测试系统的设计
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