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32位ARM嵌入式处理器的调试技术

资料介绍
嵌入式系统论文

32位ARM嵌入式处理器的调试技术
摘要:针对32位ARM处理器开发过程中调试技术的研究,分析了目前比较流行的基于JTA
G的实时调试技术,介绍了正在发展的嵌入式调试标准,并展望期趋势。
    关键词:嵌入式 调试 处理器 JTAG Nexus ARM
随着对高处理能力、实时多任务、网络通信、超低功耗需求的增长,传统8位机已远
远满足不了新产品的要求,高端嵌入式处理器已经进入了国内开发人员的视野,并在国
内得到了普遍的重视和应用。ARM内核系列处理器是由英国ARM公司开发授权给其他芯片
生产商进行生产的系统级芯片。目前在嵌入式32位处理器市场中已经达到70%的份额。笔
者在对三星公司的ARM7芯片技术调试的过程中,对这些高端嵌入式系统的调试技术进行
了总结。
传统的调试工具及方法存在过分依赖芯片引脚、不能在处理器高速运行下正常工作、
占用系统资源且不能实时跟踪和硬件断点、价格过于昂贵等弊端。目前嵌入式高端处理
器的使用渐趋普及。这些处理器常常运行在100MHz,并且一些内部控制以及内部存储器
的总线信号并不体现在外部引脚上。这种片上系统(System on
Chip)、深度嵌入、软件复杂的发展趋势给传统的调试工具带来了极大的挑战,也给嵌
入式处理器开发工程师的工作带来了不便,这就需要更先进的调试技术和工具进行配套
。本文将详细介绍在ARM处理器中采用的几种片上调试技术(on-chip
debugger)。这些片上调试技术通过在芯片的硬件逻辑中加入调试模块,从而能够降低
成本,实现传统的在线仿真器和逻辑分析仪器的功能,并在一定的条件下实现实时跟踪
和分析,进行软件代码的优化。

1 边界扫描技术(JTAG)
边界扫描技术是为了满足当今深度嵌入式系统调试的需要而被IEEE1149.1标准所采纳
,全称是标准测试访问接口与边界扫描结构(Standard
32位ARM嵌入式处理器的调试技术
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