首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > 【NI技术白皮书】为何每个工程经理都应该使用硬件在环测试

【NI技术白皮书】为何每个工程经理都应该使用硬件在环测试

资料介绍
摘要:

产品工程师如何才能跟上当今瞬息万变的技术进步,确保他们制造的产品使用安全且经久耐用?

众多行业的工程师正在将硬件在环(HIL)作为一种改良策略来测试现有硬件设计中越来越多的嵌入式软件。近年来,随着嵌入式软件和系统级设计的发展以及对更高可靠性的不断追求,HIL的应用范围已越来越广泛。

通过将HIL作为一种策略来实施,工程师在产品整个生命周期内可以通过更好地仿真来降低测试成本并提高测试覆盖率,从而为客户提供更高质量的结果。
【NI技术白皮书】为何每个工程经理都应该使用硬件在环测试
本地下载

评论