首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 元件与制造 > 上带ncover 解决电子元器件封合过程的痛点

上带ncover 解决电子元器件封合过程的痛点

资料介绍
ncover能解决的行业痛点:
1、撕裂:上SMT时,上带高速剥离时容易撕裂。
2、爆带:不同材质(PS、PC或PET)下带要搭配不同上带,否则容易爆开。
3、拉力跳动大:上SMT时,拉力跳动大容易造成元件翻转、抛料。
4、使用不方便:不能重复使用,重工亦不便。
5、加热产生碳、VOC:产生环保问题。
6、透明度不佳:不易目视品检。
7、残胶及溢胶:残胶跟溢胶都会黏SMT轨道,导致客户拒绝使用。
标签:爆裂拉里跳动
上带ncover 解决电子元器件封合过程的痛点
本地下载

评论