首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > NI硬件在环(HIL)合集:测试赋能创新

NI硬件在环(HIL)合集:测试赋能创新

资料介绍
HIL是一种嵌入式软件测试技术,该技术使用软件模型来模拟真实的测试系统,并连接来自控制器的真实信号,这使控制器误以为自己安装在了组装好的的产品中,然后就像在真实系统中一样,进行测试和设计迭代。通过这种方式,工程师可以轻松应对数千种可能的情况,正确地运行控制器,节省物理测试所需的成本和时间。……
NI硬件在环(HIL)合集:测试赋能创新
本地下载

评论