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粒子碰撞噪声检测仪FELIX L技术参数

资料介绍
美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。
标签：颗粒碰撞噪声测试仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪
粒子碰撞噪声检测仪FELIX L技术参数
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