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最大化直流测量性能实用指南

资料介绍
采用高质量的直流测量是测试半导体芯片成功的基石。 通过实施这些基本最佳实践,了解到如何提高电源管理IC,RF功率放大器和其他IC的测量精度和产品质量。
本指南包括以下主题:
源测量单位操作理论
测量精度
准确性与速度权衡
脉冲效应
使用遥感来抵消铅电阻的影响
补偿偏移电压
最大限度地减少外部噪音
防止泄漏电流
了解校准的重要性
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最大化直流测量性能实用指南
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