首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > LPWAN 的技术进展以及测试挑战解读

LPWAN 的技术进展以及测试挑战解读

资料介绍
随着以NB-IoT、LoRa等技术为代表的LPWAN物联网技术的蓬勃发展以及网络部署进展,2018年被认为是物联网应用爆发的一年。这一年,行业工程师不再只是了解概念或前期调研,而是真真正正进入到产品设计应用的阶段。你现在是处于这个状态么?

本次研讨会将对以NB-IoT、LoRa为代表的LPWAN技术做相应的更新,阐述行业工程师在设计、测试过程中可能遇到的如功耗、深度覆盖相关的主要挑战,并给出相应的解决方案。在讲解结束之后,是德科技工程师将为您在线答疑。请准备好您的问题,快来参加吧~……
LPWAN 的技术进展以及测试挑战解读
本地下载
解决方案

评论