首页|嵌入式系统|显示技术|模拟IC/电源|元件与制造|其他IC/制程|消费类电子|无线/通信|汽车电子|工业控制|医疗电子|测试测量
首页 > 分享下载 > 测试测量 > 真实干扰环境下的电源完整性测试

真实干扰环境下的电源完整性测试

资料介绍
在数字化时代,集成电路(IC)的使用在嵌入式设计中越来越普遍。集成电路芯片通常安装在印刷电路板(PCB)上,由电源分布网络(PDN)供电。使用每个集成电路芯片时,都必须考虑到它对电源分布网络的影响。大多数集成电路芯片只在改变状态时消耗电流,这种不规律的用电给PDN带来了很大失真,产生电源完整性的问题。
其它测试技术白皮书系列:
* 四个步骤来最大化示波器的测量带宽:http://share.eepw.com.cn/share/download/id/372950
* 是德电源完整性测试白皮书第五章:http://share.eepw.com.cn/share/download/id/346513
* 是德电源完整性测试白皮书:http://share.eepw.com.cn/share/download/id/346505
真实干扰环境下的电源完整性测试
本地下载

评论