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基于边界扫描技术的测试系统设计

资料介绍
随着超大规模集成电路(VLSI)、表面安装器件(SMD)、多层印制电路板(MPCB)等技术的发展,电路板的常规测试方式面临挑战.介绍了边界扫描技术及边界扫描测试的基本原理,提出了一种基于边界扫描技术的测试系统方案及其实现,并着重介绍了JTAG总线控制器的设计.

标签：边界扫描，内建自测试，可测性设计，，，
基于边界扫描技术的测试系统设计
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