基于边界扫描技术的数字系统测试研究

介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法.针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现.通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现.

基于边界扫描技术的数字系统测试研究
倪军１’２，杨建宁２
（１．皖西学院机械与电子工程系，安徽六安２３７０１０；
２．江苏大学电气信息工程学院，江苏镇江２１２０１３）

摘要：介绍了支持ⅡＡＧ标准的ＩＣ芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制
ＩＣ芯片处于特定功能模式的方法。针对ＩＣ芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法，并用两
块ｘｃ９５７２ ｐｃ８４芯片互连的ＰＣＢ板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现，体现了边界扫描技

术易于电路系统调试和方便系统设计的特点，且设计的系统控制逻辑简单方便，易于实现。
关键词：边界扫描测试ＩＥＥＥｌｌ４９．１标准（ＪＴｌｌＡＧ标准）可测性设计集成电路


当今，微电子技术已经进入超大规模集成电路（ＶＬ― 扫描链


ＳＩ）时代。随着芯片电路的小型化及表面封装技术
（ＳＭＴ）和电路板组装技术的发展，使得传统测试技术面
临着巨大的挑战。在这种情况下，为了提高电路和系统 输

的可测试性，联合测试行动小组（ＪＴＡＧ）于１９８７年提出