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提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法

资料介绍
一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法.该方法解决了内部A/D的采样幅值为0~3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度.


提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法
李超,陈培锋
(华中科技大学光电子科学与工程学院,湖北武汉430074)

摘要:一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部A/D
的采样幅值为0―3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序
器SEQl和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度。
关键词:数字信号处理器7rMS320LF2407A数据采集


与一般的单片机控制系统相比,数字信号处理器 仇=2地,12 (6)
DSP具有更高的处理速度、更小的功耗和体积,便于应 可用信躁比SⅣ冗评价A/D转换器的性能指标,其计

用在工业控制、个人数字处理器(Personal Digital Assist粕t) 算方法为:
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