提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和范围的方法

一种提高TMS320LF2407A内部A/D采样精度和采样范围的方法.该方法解决了内部A/D的采样幅值为0～3.3V的瓶颈,并采用TMS320LF2407A内部A/D的两个独立的模拟转换通道的排序器SEQ1和SEQ2对采样对象进行分离,在不影响采样速率的情况下提高A/D的采样精度.


提高ＴＭＳ３２０ＬＦ２４０７Ａ内部Ａ／Ｄ采样精度和范围的方法
李超，陈培锋
（华中科技大学光电子科学与工程学院，湖北武汉４３００７４）

摘要：一种提高ＴＭＳ３２０ＬＦ２４０７Ａ内部Ａ／Ｄ采样精度和采样范围的方法。该方法解决了内部Ａ／Ｄ
的采样幅值为０―３．３Ｖ的瓶颈，并采用ＴＭＳ３２０ＬＦ２４０７Ａ内部Ａ／Ｄ的两个独立的模拟转换通道的排序
器ＳＥＱｌ和ＳＥＱ２对采样对象进行分离，在不影响采样速率的情况下提高Ａ／Ｄ的采样精度。
关键词：数字信号处理器７ｒＭＳ３２０ＬＦ２４０７Ａ数据采集


与一般的单片机控制系统相比，数字信号处理器 仇＝２地，１２ （６）
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