资料介绍
提出了一种安全可控的可测性设计DFT(Design For Test).DFT既能够完成对SoC的测试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全.
・信息安全
一种安全可控的SoC可测性设计水
王新成,孙宏,蔡吉仁,杨义先
(北京邮电大学信息安全中心,北京100876)
摘要:提出了一种安全可控的可测性设计D胛(DesigIl For Test)。D丌既能够完成对SoC的测
试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。
关键词:可测性设计集成电路微系统芯片
1背景 芯片的可测性作为设计目标之一。DFT及EDA工具支
测试是集成电路设计和生产过程中最重要的环节 持的可测性设计技术口1包括:(1)全扫描技术;(2)部分扫
之一,是检测集成电路设计是否达到既定设计要求的重