内建自测试相移器设计算法的优化

在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法.实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率.


内建自测试相移器设计算法的优化
吴玺，刘军，刘正琼
（合肥工业大学计算机与信息学院，安徽合肥２３０００９）


摘要：在原相移器设计算法的基础上，通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移
器设计算法。实验结果表明，此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成ＬＦＳＲ扇出过大的缺点，而
且提高了伪随机测试故障的覆盖率。
关键词：伪随机测试混合模式测试相移器线性反馈移位寄存器故障覆盖率


集成电路的发展已进入ＳｏＣ时代，可将各种不同类 一类Ｌ黔Ｒ的伴随矩阵，Ｄ为第二类ＬＦＳＲ的伴随矩阵。
型的ＩＰ芯核集成在一块芯片上，构成一个完整的系统， 容易证明，胛＝Ｄ。１【５１。
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既能加快开发进度，又能提高系统整体性能。但集成电路 ｈ１
…
的测试却面临越来越多的挑战，如不同类型的ＩＰ核测试