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ICT测试仪器开发理论研究

资料介绍
本文介绍了ICT测试仪器的原理以及部分产品开发方案

ICT测试仪器开发理论
(中国 东莞 Email:loof_lripa@163.com)

我是一名普通的电子专业本科毕业生,在一个世界五百强的企业里做测试工程师三年,
做服务器主板(世界名牌)测试。由于感觉到公司远远满足不了自己的求知欲望,现在
跳到了另外一家公司做测试设备的开发。

我写这编论文的目的不在其他,在于资源共享,期待国内的有志之士也能开发出世界顶
级测试仪器。看看他们的测试仪器的科技成分到底在哪里?我们国家的人完全可以开发
出来每台约500万美元ICT测试仪器。
ICT,即in circuit
test,线路板内路测试,这种设备就是快速检查电路板的缺陷。在批量生产时采用的设备

我们所用的测试仪器的的功能无非是这几种:1、contact测试,即开路测试。
2、short测试,即短路测试。

3、OX/JX测试。即连接器测试(也可测BGA、
IC是否空焊。

4、component测试,即元件测试。元件测试分
为resistance(电阻)、电容测试、电感测试


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