集成电路测试仪使用说明书

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ICT-33C+集成电路测试仪说明书 http://www.17.net.cn



操 作 指 南
目录
一、操作指南
1．开箱验机
2．操作部件介绍
3．测试电压选择
4．基本操作
5．编程操作
6．缓冲区编辑
7．微机通讯操作
8．其它操作
9．查看软件版本编号
10．操作注意事项
11．运放测试使用说明
12．锁紧插座板功能介绍
二、产品介绍
1．工作原理
2．系统主要构成
3．主要参数
4．功能综述
5．适用范围
6．测试容量
7．软件升级
三、维护保养
四、售后服务
五、测试容量清单
重要提示：
1．本机使用 220V±15%、50HZ 交流电源。
2．当用本机对 EEPROM、串行 EEPROM、FLASH ROM、单片机片内 ROM 器件进行好
坏判别或写入时，将会改变被测器件内部的数据，因此对正在使用中的这类器件进行好
坏判别前，最好能先备份；而对这类器件进行数据显示或读入、 比较时则不会改变数据。
3．EEPROM、FLASHROM、串行 EEPROM、运算放大器、三端稳压器等器件不能进行
型号识别。
4．当按下“好坏判别”键时，若显示“1―2”或“OU--数字”或“VCC―数字”时，按要
求放好被测器件后，须再次按下“好坏判别”键。光耦合器件测试时会显示“1―2” ，请参
阅第 7 页的说明。
5．在进行各项测试之前，首先要确认测试电压与被测器件是否匹配，否则有可能损坏被测
器件。选择的原则是 9.0V 及 15V 测试电压仅 CMO