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非理想互连的问题中国 PCB 技术网翻译整理 tinyang、夹湾沟、阿鸣
第四章 非理想互连的问题
现代的技术已经朝着更高的速度和更小的封装发展，这是一种不可改变的趋势。随之而来，在以
前的数字设计过程中经常被认为微不足道或可以忽略的影响现在常常成为主要的设计焦点。在这些现
代设计中必须被考虑的新变量中，非理想效应就是其中的一个方面，比如频域衰耗、阻抗不连续和蛇
行线影响等等。这些高频的效应通常是很难模拟的，很多大学都正在不断地研究中。所以，随着系统
速度的突飞猛进，工程师们不仅要处理技术上的难点，还必须应对大量的可变因素。在这一章里我们
要解决许多由于非理想互连所带来的问题，它们都必须在现代设计中被考虑。这一章的焦点是过去的
设计中被极大忽略，而现在却成为关键的高速时的传输特性问题。这里提出的许多模型中也存在许多
缺点，就像过去简单模型中的缺点一样，这些需要在将来被修订。随着一些模型的调整，读者应该一
直明白这里有许多假设和近似被建立。
4.1. 传输线损耗
随着技术的进步，数字系统正朝着更小、更快的方向发展，器件封装和传输线的几何尺寸都在缩
小。而更小的尺寸和更高的频率会加剧传输线上的电阻损耗。因此，如何建模传输线上的电阻损耗变
得越来越重要。电阻损耗的结果是减小了信号的幅度，从而降低了数字系统的性能，比如会影响噪声
门限和减慢边沿速率，这最终都将会影响到时序裕量。在以前，由于系统工作在比较低的频率下，我
们可以忽略 PCB 和封装上的这种损耗，然而，现在就不同了，系统要求对损耗进行更严格的分析，因
为它们的存在，常常是导致数据互连性能恶化的首要原因。
4.1.1. 导体的直流损耗
正如第
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